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扫描电子显微镜

发布时间:2011-10-22  浏览次数:3901

 

扫描电子显微镜   SEM   JSM-6480

技术指标

分辨率,高真空模式:3.3nm,低真空模式:4.0nm;样品台X125mm Y:100mm T:5~80mm+90degree R:360degree;加速电压0.3kv to 30kv;图像可达:2560*1920像素;图像格式:RMPTIFFJPEG 

功能及特点

功能:对各种材料的物质表面形貌进行观察,配合能谱仪对各种元素进行定性、定量分析,配合电子背散射衍射(EBSD)系统可进行织构、晶体取向等分析。 
特点:分辨率高,操作简单,功能强大,试样仓大等。 
对材料的物质表面形貌进行观察,对各种元素进行定性、定量分析,还可进行织构、晶体取向等分析。

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