扫描电子显微镜 SEM JSM-6480
技术指标 | 分辨率,高真空模式:3.3nm,低真空模式:4.0nm;样品台X: |
功能及特点 | 功能:对各种材料的物质表面形貌进行观察,配合能谱仪对各种元素进行定性、定量分析,配合电子背散射衍射(EBSD)系统可进行织构、晶体取向等分析。 |
扫描电子显微镜 SEM JSM-6480
技术指标 | 分辨率,高真空模式:3.3nm,低真空模式:4.0nm;样品台X: |
功能及特点 | 功能:对各种材料的物质表面形貌进行观察,配合能谱仪对各种元素进行定性、定量分析,配合电子背散射衍射(EBSD)系统可进行织构、晶体取向等分析。 |