X-射线衍射仪 XRD TTRIII
技术指标 | X射线发生器功率为旋转阳极强力转靶18KW;测角仪为水平测角仪；测角仪最小步进为1／10000度；测角仪配程序式可变狭缝；高反射效率的石墨单色器；CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）(理学独有)；小角散射测试组件，多用途薄膜测试组件；微区测试组件；IN-Plane测试组件）(理学独有)。 |
功能及特点 | 功能：粉末样品的物相定性与定量分析；计算结晶化度、晶粒大小；确定晶系、晶粒大小与畸变；Rietveld结构分析；薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度；IN-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构；小角散射与纳米材料粒径分布；微区样品的分析。 |